礦物和礦石--偏光顯微鏡蔡司LAB-A1

礦物和礦石--偏光顯微鏡蔡司LAB-A1

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舒適的操作條件下進行可靠的微觀結構和材料缺陷分析

從三種 Axio Lab.A1 主機架中為您的應用選擇佳配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無畸變和錐光觀察的 Axio Lab.A1。

在相學中，Axio Lab.A1廣泛應用于高樣品的檢測。在結構檢測時，可以分析屬的微觀結構和晶粒大小或者捕獲導致材料缺陷的相關機理信息，例如：疲勞度、腐蝕、應力裂紋和裂縫。 使用1301200萬像素的數碼相機記錄檢測結果。

偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測犯罪樣品時用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結構。使用明場、熒光和偏光顯微技術分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質學家，則可以使用該儀器檢測巖石切面和礦物樣品，例如：用于石油開采。在環(huán)境保護應用中，它還能夠用于辨識諸如石棉纖維材料的微觀結構。

材料成像

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礦物和礦石

顏色 – 偏光顯微研究

光學顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學和礦物表征的*工具。典型的應用是對礦物的紋理和解離進行定性、定量分析及測定。大部分巖石和礦物樣品含有光學各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結晶度和巖石礦物形貌，幫助識別各類巖石礦物。

檢測更多的特性

偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓力、形成時的組份、溶液結晶化或熔體凝固化，都會影響礦物形貌、結晶及光學特性，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來源的依據。

適用于您特定需求的各種觀察方式

借助透射偏光顯微鏡可以對拋光薄片進行研究，運用正交、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術識別單個晶體和礦物顆粒。對于不透明的礦物，利用明場、暗場、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法，能夠分析比如攣晶的顏色、晶體解理面及形貌等特征。大多數情況下，在對各向異性材料進行分類時，對錐光觀察獲得的干涉圖像進行分析的價值遠勝于物體本身的圖像信息。

選擇適合的儀器

在礦物學教育和礦石研究域中，偏光顯微鏡也是您的要選擇，它包括簡易的觀察系統(tǒng)和的分析型儀器。這類顯微鏡永遠不會過時，并能隨時進行升級。它可以提供無應力光學元件、全功能的觀察方式和測量技術，正交偏光和錐光鑒定，解理角的測定，并有多種選配件以及數字分析功能。

如需獲取更深層的信息

掃描電子顯微鏡是一種多用途的分析儀器，例如可用于礦相分類和定量研究及礦物解離分析。礦石 & 礦物表征的常用信號為背散射電子信號，它能用于提供化學信息。